+集成电路试验 集成电路试验 检验试验服务招标公告（连云港杰瑞电子有限公司2025）
询价书名称：分谈分签+连云港杰瑞电子有限公司+集成电路试验的询价书
物料信息
序号
物料编码
物料描述
计量单位
交货地点
交货日期
国产/进口
说明
附件
1
561418
集成电路试验1
只
2025-11-30
不指定
2
561418
集成电路试验2
只
2025-11-30
不指定
3
561418
集成电路试验3
只
2025-11-30
不指定
4
561418
检验试验服务
只
2025-11-30
不指定
5
561418
检验试验服务
只
2025-11-30
不指定
寻源要求
询价单位：连云港杰瑞电子有限公司
签约单位：连云港杰瑞电子有限公司
报价截止时间：2025-11-05 12:00
允许部分物料报价：否
附加费（附加费包括运费、包装费、服务费、其他费用）：包含在物料价格中
报价有效期：2025-11-30
是否指定报价币种：指定
报价币种：人民币
承运方式：
结算方式：
补充说明：试验条件RD19230LMQ详细规范，询价清单详见附件
经办人信息
姓名：吕晶
手机：
电话：0518-85981791
邮箱：
附件
Q_JARIE 30009-2010_V1.6.doc
询价清单.xlsx
q/JARIE30009-2010q/JARIE30009-2010Q/JARIEFL5962q/JARIE30009-2010半导体集成电路RD19230LMQ型解算-数字转换电路详细规范SemiconductorintegratedcircuitsdetailspecificationforRD19230LMQmonolithicresolvertodigitalconverter2010-05-15发布2010-06-01实施连云港杰瑞电子有限公司发布前言本规范是GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》的相关详细规范。本规范由连云港杰瑞电子有限公司提出。本规范由连云港杰瑞电子有限公司归口。本规范起草单位：连云港杰瑞电子有限公司。本规范主要起草人：韩彬审核：夏伟、陈大科标检：李建芝批准：方纪村本规范系首次发布。半导体集成电路RD19230LMQ型解算-数字转换电路详细规范1范围本规范规定了半导体集成电路RD19230LMQ型解算-数字转换电路（以下简称器件）的技术要求。质量保证等级按GJB597A-1996中规定的B级控制。2引用文件下列文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本规范，但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T7092-1993半导体集成电路外形尺寸GJB548微电子器件试验方法和程序GJB597A-1996半导体集成电路总规范Q/JARIE-J120-2010同步/解算-数字转换集成电路测试方法3要求3.1总则器件应符合本规范和GJB597A-1996规定的所有要求。本规范的要求与通用规范不一致时，应以本规范为准。3.2设计、结构和外形3.2.1工艺结构器件采用CMOS工艺，芯片尺寸为5.2mm×6.2mm。3.2.2封装形式本规范规定的封装形式是CQFP64。3.2.3绝对最大额定值绝对最大额定值如下：正电源电压(VDD)………………………………………………………………………7V负电源电压(VSS)………………………………………………………………………-7V贮存温度范围…………………………………………………………………………-65℃～150℃结温……………………………………………………………………………………150℃结至封装壳体的热阻（θJC）…………………………………………………………20℃/W结至周围环境的热阻（θJA）…………………………………………………………50℃/W3.2.4推荐工作条件推荐工作条件如下：正电源电压(VDD)………………………………………………………………………4.75V～5.25V负电源电压(VSS)………………………………………………………………………-5.25V～-4.75V数字输入低电压范围(VIL)……………………………………………………………0V～0.8V数字输入高电压范围(VIH)……………………………………………………………2.0V～5.0V信号与参考频率范围…………………………………………………………………47～10000Hz工作温度范围(TA）…………………………………………………………………-55℃～125℃3.2.5外形尺寸器件的外形图和外形尺寸见图1。 尺寸符号
数 值，mm
角度（°）
最 小
公 称
最 大
A1
--
--
0.60
--
A2
--
--
3.55
A
--
--
4.15
b
--
0.35
--
L
1.20
--
1.62
LP
0.80
1.20
C
0.12
--
0.18
e
--
0.80
--
D(E)
13.82
--
14.12
HD(HE)
16.60
--
17.00
Z
--
--
1.62
θ
0~8
图1外形图3.2.6引出端排列引出端排列和功能见图2。 引出端序号
符号
功能
引出端序号
符号
功能
1
VEL
速度电压输出端
33
VDD(+5V)
+5V电源
2
-VCO
压控振荡输入端
34
NC
空脚
3
SJ1
带宽选择SJ1端
35
BIT9
权值0.703º数字角输出端
4
SJ2
带宽选择SJ2端
36
BIT2
权值90.000º数字角输出端
5
SHIFT
参数选择控制
37
BIT10
权值0.352º数字角输出端
6
VEL2
速度电压VEL2端
38
BIT3
权值45.000º数字角输出端
7
TP1
测试点1
39
BIT11
权值0.176º数字角输出端
8
VEL1
速度电压VEL1端
40
BIT4
权值22.500º数字角输出端
9
TP2
测试点2
41
NC
空脚
10
+C
余弦信号同相端
42
BIT12
权值0.088º数字角输出端
11
COS
余弦信号反馈端
43
BIT5
权值11.250º数字角输出端
12
-C
余弦信号反相端
44
BIT13
权值0.044º数字角输出端
13
+S
正弦信号同相端
45
BIT6
权值5.625º数字角输出端
14
SIN
正弦信号反馈端
46
BIT14
权值0.022º数字角输出端
15
-S
正弦信号反相端
47
BIT7
权值2.813º数字角输出端
16
VSS(-5V)
-5V电源
48
BIT15
权值0.011º数字角输出端
17
VSS(-5V)
-5V电源
49
BIT8
权值1.406º数字角输出端
18
TP3
测试点3
50
BIT16
权值0.005º数字角输出端
19
R CLK
外接电阻端
51
A(LSB+1)
增量码A信号
20
R SET
外接电阻端
52
测试点4
21
高位使能输入端
53
NC
空脚
22
AGND
模拟地
54
NC
空脚
23
VSSP
内部移相电源-5V输出
55
忙信号、过零信号选择
24
NCAP
内部移相电源外接电容器负端
56
TP6
测试点6
25
GND
数字地
57
低位使能输入端
26
PCAP
内部移相电源外接电容器正端
58
VDD(+5V)
+5V电源
27
VDDP
内部移相电源+5V输入
59
增益控制
28
内建测试信号
60
D0
分辨率控制低位
29
U/B
方向信号或增量码B信号
61
D1
分辨率控制高位
30
增量编码器控制
62
禁止信号输入端
31
CB(ZI)
忙信号或过零信号
63
RH
参考信号输入高端
32
BIT1
权值180.000º数字角输出端
64
RL
参考信号输入低端
图2引出端排列3.2.7功能说明3.2.7.1概述器件接收解算信号，通过内部电路的处理，实现分辨率为10、12、14或16位解算-数字的转换。3.2.7.2功能框图器件功能框图见图3。图3功能框图3.2.8引线材料和涂覆引线材料和涂覆应按GJB597A-1996中3.5.6的规定。3.3电特性除另有规定外，电特性应按表1的规定，并适用于全工作温度范围。表1电特性 电特性
符号
条 件
（除另有规定外，-55℃≤TA≤125℃，
VDD=5V±0.25V，VSS=-5V±0.25V,信号电压为2V±0.3V,参考电压为2V±0.3V,工作频率为400Hz±40Hz）
A组分组
规定值
单位
最小
最大
静态角精度a
AOUT
分辨率为
16位
工作频率为47～4kHz
1,2,3
-7
+7
LSB
工作频率为4k～10kHz
-9
+9
数字输出
高电平电压
VOH
Bit1～Bit16
1,2,3
2.8
-
V
数字输出
低电平电压
VOL
Bit1～Bit16
1,2,3
-
0.4
V
数字输出
漏电流
IZ
Bit1～Bit16
1,2,3
-
10
μA
正电源电流
IDD
1,2,3
-
25
mA
负电源电流
ISS
1,2,3
-
25
mA
相移b
PS
信号与参考之间的相位差
4,5,6
-45
+45
°
表1（续） 电特性
符号
条 件
（除另有规定外，-55℃≤TA≤125℃，
VDD=5V±0.25V，VSS=-5V±0.25V,信号电压为2V±0.3V,参考电压为2V±0.3V,工作频率为400Hz±40Hz）
A组分组
规定值
单位
最小
最大
参考差分
输入电压b
VP-P
4,5,6
-
10
V
参考单端
输入电压b
VP
4,5,6
-5
+5
V
信号工作电压b
VRMS
4,5,6
1.7
2.3
V
跟踪速率
TR
带宽最大
分辨率为10位
4,5,6
-
1152
rps
分辨率为12位
-
288
分辨率为14位
-
72
分辨率为16位
-
18
建立时间b
ST
179°阶跃
（带宽最大）
分辨率为10位
4,5,6
0
2
ms
分辨率为12位
0
8
分辨率为14位
0
20
分辨率为16位
0
50
速度信号
满刻度电压c
VEL
4,5,6
-4
4
V
速度信号
反相误差c
RE
4,5,6
-
1.3
%
速度信号
线性度c
L
4,5,6
-
0.5
%
速度信号
零位电压c
VOS
4,5,6
-
10
mV
速度信号
零位温漂c
VOST
4,5,6
-
30
μV/℃
重复性b
AR
分辨率为
16位
工作频率为47Hz～4kHz
7,8A,8B
-1
1
LSB
工作频率为4kHz～10kHz
-2
2
分辨率控制
RC
D1=D0=0.8V
7,8A,8B
10
-
Bits
D1=0.8V,D0=2.0V
12
-
D1=2.0V,D0=0.8V
14
-
D1=2.0V,D0=2.0V
16
-
禁止电压
VINH
禁止信号
为逻辑低时，输入角度变化，输出数据角度不发生变化
7,8A,8B
-
0.8
V
刷新电压
VDIS
禁止信号
为逻辑高时，输入角度变化，输出数据角度变化
7,8A,8B
2.0
-
V
使能电压
VE
控制数据Bit1～Bit8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
-
0.8
V
三态电压
VD
控制数据BIT1～BIT8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
2.0
-
V
表1（续） 电特性
符号
条 件
（除另有规定外，-55℃≤TA≤125℃，
VDD=5V±0.25V，VSS=-5V±0.25V,信号电压为2V±0.3V,参考电压为2V±0.3V,工作频率为400Hz±40Hz）
A组分组
规定值
单位
最小
最大
参数选择
控制
SHIFT
SJ1端接10r/s的外围参数，SJ2端接40r/s的外围参数
跟踪速率为10r/s
7,8A,8B
2.0
-
V
跟踪速率为40r/s
-
0.8
忙信号
正脉冲宽度
tCB
为逻辑1
7,8A,8B
0.25
0.75
μs
过零信号
ZIP
为
逻辑0
BIT1～BIT16全为0
7,8A,8B
2.8
-
V
BIT1～BIT16不全为0
-
0.4
内建测试信号
下面几种情况出现任意一种时：1）参考电压或信号电压低于500mV；2）信号或参考丢失；3）输出阶跃正向变化超过100LSB或者反向变化超过-250LSB。
7,8A,8B
-
0.4
V
a 在0º～180º内每隔22.5º测试静态角精度，超过180º仅测试225º、270º和315º的静态角精度。
b 该参数仅在鉴定检验和影响参数的工艺更改时测试。
c 该参数测试时分辨率为16位。
3.4电测试要求电测试要求见表2，各分组的测试按本规范表1的规定进行。表2电测试要求 项 目
分 组（分组见表1）
最终电测试
A1,A2,A3,A4,A5,A6,A7,A8A,A8B
A组检验电测试
A1,A2,A3,A4,A5,A6,A7,A8A,A8B
C组终点电测试
A1
D组终点电测试
A1
3.5电测试方法器件的电测试方法按照Q/JARIE-J120-2010的规定进行。3.6静电放电敏感度ESD等级为1级，静电放电电压为500V，样本大小为3（0），仅在初始鉴定和影响产品质量的重新设计时进行。3.7器件标志标志按GJB597A-1996中的3.6的规定，并增加型谱产品的标识。4质量保证规定4.1抽样和检验除另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597A-1996和GJB548方法5005的规定。4.2筛选4.2.1总则筛选应按GJB597A-1996中3.4.3、GJB548方法5004进行。4.2.2老炼试验老炼试验应按GJB548方法1015和以下规定进行：a）试验条件为B；b）TA=125℃，时间160h；c）老炼试验电路图见图4；d）最终电测试应按本规范表2的规定进行。注1：R1=R3=200kΩ,R2=R4=15kΩ,Ri=70.8kΩ,Rf=12kΩ,RB=820kΩ，RV=180kΩ,RS=RC=30kΩ,CBW=0.047μF。注2：负载1～负载16见图5，图5中L点为转换器负载连接点。图4老炼试验和寿命试验用电路图注1：V1为1N4148或等效。注2：C1=150pF±30pF,包括负载固定电容和探头电容。注3：R1为62kΩ±6.2kΩ,0.1W，R2应满足L点保持在400mV时其输出电流为1.6mA±0.08mA。图5逻辑负载电路图4.3鉴定检验鉴定检验应按GJB597A-1996中4.4的规定，所进行的检验应按GJB548方法5005和本规范A、B、C和D组检验的规定。4.4质量一致性检验4.4.1概述质量一致性检验应按GJB597A-1996中4.5的规定，所进行的检验应按GJB548方法5005和本规范的规定。4.4.2A组检验A组检验应按GJB548方法5005中表1和以下规定进行：a）电测试应按本规范表2的规定；b）剔除GJB548方法5005表1中9、10和11分组。4.4.3B组检验B组检验应按GJB548方法5005中表3的规定。4.4.4C组检验4.4.4.1总则C组检验应按GJB548方法5005中表4的规定进行。4.4.4.2稳态寿命稳态寿命试验应按GJB548方法1005和以下规定进行：a）试验条件为B；b）TA=125℃，时间1000h；c）稳态寿命试验电路图见图4；d）终点电测试应按本规范表2的规定进行。4.4.5D组检验D组检验应按GJB548方法5005中表5的规定。5交货准备包装要求应按GJB597A-1996中的5.1规定。6说明事项6.1预定用途符合本规范的器件预定用于新设计的军事装备和后勤保障。6.2订货资料订货文件应规定下列内容：a)本规范的编号、名称；b)器件的型号、名称和订货数量；c)应提供的试验数据；d)更改通知；e)需要时的其它要求。Q/JARIE30009-2010《半导体集成电路RD19230LMQ解算-数字转换电路产品规范》第1号更改单实施日期：2024.04.30 序号
页次
章条号
更改前
更改后
备注
1
2
3.2.5
尺寸符号
数 值，mm
角度（°）
最 小
公 称
最 大
A1
--
--
0.60
--
A2
--
--
3.55
A
--
--
4.15
b
--
0.35
--
L
1.20
--
1.62
LP
0.80
1.20
C
0.12
--
0.18
e
--
0.80
--
D(E)
13.82
--
14.12
HD(HE)
16.60
--
17.00
Z
--
--
1.62
θ
0~8
图1 外形图
单位：mm
符号
最小值
典型值
最大值
A1
1.80
2.00
2.20
A
2.25
2.65
3.05
b
0.2
0.25
0.3
c
0.10
0.15
0.20
e
0.75
0.80
0.85
D(E)
14.40
14.60
14.80
HD(HE)
16.35
16.60
16.85
Lp
0.70
--
1.30
图1 外形图
2
4
3.3
表1 电特性
电特性
符号
条 件
（除另有规定外，-55℃≤TA≤125℃，VDD=5V±0.25V,VSS=-5V±0.25V, 信号电压为2V±0.3V,参考电压为2V±0.3V,工作频率为400Hz±40Hz）
A组分组
规定值
单位
最小
最大
静态角精度a
AOUT
分辨率为
16位
工作频率为47～4kHz
1,2,3
-7
+7
LSB
工作频率为4k～10kHz
-9
+9
数字输出
高电平电压
VOH
Bit1～Bit16
1,2,3
2.8
-
V
数字输出
低电平电压
VOL
Bit1～Bit16
1,2,3
-
0.4
V
数字输出
漏电流
IZ
Bit1～Bit16
1,2,3
-
10
μA
正电源电流
IDD
1,2,3
-
25
mA
负电源电流
ISS
1,2,3
-
25
mA
相移b
PS
信号与参考之间的相位差
4,5,6
-45
+45
°
参考差分
输入电压b
VP-P
4,5,6
-
10
V
参考单端
输入电压b
VP
4,5,6
-5
+5
V
信号工作电压b
VRMS
4,5,6
1.7
2.3
V
跟踪速率b
TR
带宽最大
分辨率为10位
4,5,6
-
1152
rps
分辨率为12位
-
288
分辨率为14位
-
72
分辨率为16位
-
18
建立时间b
ST
179°阶跃
（带宽最大）
分辨率为10位
4,5,6
0
2
ms
分辨率为12位
0
8
分辨率为14位
0
20
分辨率为16位
0
50
速度信号
满刻度电压c
VEL
4,5,6
-4
4
V
速度信号
反相误差c
RE
4,5,6
-
1.3
%
速度信号
线性度c
L
4,5,6
-
0.5
%
速度信号
零位电压c
VOS
4,5,6
-
10
mV
速度信号
零位温漂b
VOST
4,5,6
-
30
μV/℃
重复性b
AR
分辨率为
16位
工作频率为47Hz～4kHz
7,8A,8B
-1
1
LSB
工作频率为4kHz～10kHz
-2
2
分辨率控制
RC
D1=D0=0.8V
7,8A,8B
10
-
Bits
D1=0.8V,D0=2.0V
12
-
D1=2.0V,D0=0.8V
14
-
D1=2.0V,D0=2.0V
16
-
禁止电压
VINH
禁止信号
为逻辑低时，输入角度变化，输出数据角度不发生变化
7,8A,8B
-
0.8
V
刷新电压
VDIS
禁止信号
为逻辑高时，输入角度变化，输出数据角度变化
7,8A,8B
2.0
-
V
使能电压
VE
控制数据Bit1～Bit8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
-
0.8
V
三态电压
VD
控制数据BIT1～BIT8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
2.0
-
V
参数选择
控制
SHIFT
SJ1端接10r/s的外围参数，SJ2端接40r/s的外围参数
跟踪速率为10r/s
7,8A,8B
2.0
-
V
跟踪速率为40r/s
-
0.8
忙信号
正脉冲宽度
tCB
为逻辑1
7,8A,8B
0.25
0.75
μs
过零信号
ZIP
为
逻辑0
BIT1～BIT16全为0
7,8A,8B
2.8
-
V
BIT1～BIT16不全为0
-
0.4
内建测试信号
下面几种情况出现任意一种时：1）参考电压或信号电压低于500mV；2）信号或参考丢失；3）输出阶跃正向变化超过100LSB或者反向变化超过-250LSB。
7,8A,8B
-
0.4
V
a 在0º～180º内每隔22.5º测试静态角精度，超过180º仅测试225º、270º和315º的静态角精度。
b 该参数仅在鉴定检验和影响参数的工艺更改时测试。
c 该参数测试时分辨率为16位。
表1 电特性
电特性
符号
条 件
（除另有规定外，-55℃≤TA≤125℃，VDD=5V±0.25V,信号电压为2V±0.3V,参考电压为2V±0.3V,工作频率为400Hz±40Hz）
A组分组
规定值
单位
最小
最大
静态角精度a
AOUT
分辨率为
16位
工作频率为47～4kHz
1,2,3
-7
+7
LSB
工作频率为4k～10kHz
-9
+9
数字输出
高电平电压
VOH
Bit1～Bit16
1,2,3
2.8
-
V
数字输出
低电平电压
VOL
Bit1～Bit16
1,2,3
-
0.4
V
数字输出
漏电流
IZ
Bit1～Bit16
1,2,3
-
10
μA
正电源电流
IDD
1,2,3
-
50
mA
相移b
PS
信号与参考之间的相位差
4,5,6
-45
+45
°
参考差分
输入电压b
VP-P
4,5,6
-
10
V
参考单端
输入电压b
VP
4,5,6
-5
+5
V
信号工作电压b
VRMS
4,5,6
1.7
2.3
V
跟踪速率b
TR
带宽最大
分辨率为10位
4,5,6
-
1152
rps
分辨率为12位
-
288
分辨率为14位
-
72
分辨率为16位
-
18
建立时间b
ST
179°阶跃
（带宽最大）
分辨率为10位
4,5,6
0
2
ms
分辨率为12位
0
8
分辨率为14位
0
20
分辨率为16位
0
50
速度信号
满刻度电压c
VEL
4,5,6
-4
4
V
速度信号
反相误差c
RE
4,5,6
-
1.3
%
速度信号
线性度c
L
4,5,6
-
0.5
%
速度信号
零位电压c
VOS
4,5,6
-
10
mV
速度信号
零位温漂b
VOST
4,5,6
-
30
μV/℃
重复性b
AR
分辨率为
16位
工作频率为47Hz～4kHz
7,8A,8B
-1
1
LSB
工作频率为4kHz～10kHz
-2
2
分辨率控制
RC
D1=D0=0.8V
7,8A,8B
10
-
Bits
D1=0.8V,D0=2.0V
12
-
D1=2.0V,D0=0.8V
14
-
D1=2.0V,D0=2.0V
16
-
禁止电压
VINH
禁止信号
为逻辑低时，输入角度变化，输出数据角度不发生变化
7,8A,8B
-
0.8
V
刷新电压
VDIS
禁止信号
为逻辑高时，输入角度变化，输出数据角度变化
7,8A,8B
2.0
-
V
使能电压
VE
控制数据Bit1～Bit8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
-
0.8
V
三态电压
VD
控制数据BIT1～BIT8，控制数据Bit9～Bit16
7,8A,8B
2.0
-
V
参数选择
控制
SHIFT
SJ1端接10r/s的外围参数，SJ2端接40r/s的外围参数
跟踪速率为10r/s
7,8A,8B
2.0
-
V
跟踪速率为40r/s
-
0.8
忙信号
正脉冲宽度
tCB
为逻辑1
7,8A,8B
0.25
0.75
μs
过零信号
ZIP
为
逻辑0
BIT1～BIT16全为0
7,8A,8B
2.8
-
V
BIT1～BIT16不全为0
-
0.4
内建测试信号
下面几种情况出现任意一种时：1）参考电压或信号电压低于500mV；2）信号或参考丢失；3）输出阶跃正向变化超过100LSB或者反向变化超过-250LSB。
7,8A,8B
-
0.4
V
a 在0º～180º内每隔22.5º测试静态角精度，超过180º仅测试225º、270º和315º的静态角精度。
b 该参数仅在鉴定检验和影响参数的工艺更改时测试。
c 该参数测试时分辨率为16位。
拟制： 杜玉莹 2024-04-03
审核：
批准：
6I
序号
批号
名称
型号
数量
产品编码
单位
编号(成品填写)
试验项目/工序名称
试验条件或标准
1
F250800A
集成电路
RD19230LMQ
4
XP0100007
个
001-004
耐溶剂性/可焊性试验/内部目检/B5 键合强度/B6 芯片剪切强度
RD19230LMQ详细规范
2
F250800A
集成电路
RD19230LMQ
15
XP0100007
个
050-064
D2 引线牢固性/D7 引线涂覆粘附强度
RD19230LMQ详细规范
3
F250800C
集成电路
RD19230LMQ
15
XP0100007
个
050-064
D1 热冲击/D2 耐湿
RD19230LMQ详细规范
4
F250800D
集成电路
RD19230LMQ
15
XP0100007
个
065-079
机械冲击试验/扫频振动试验
RD19230LMQ详细规范
5
F250800E
集成电路
RD19230LMQ
3
XP0100007
个
080-082
C3 内部水汽含量
RD19230LMQ详细规范
投标 / 标书制作要点（原创）
本+集成电路试验 集成电路试验 检验试验服务涉及「招标公告」，投标方需重点关注：① 营业执照经营范围须含招标公告或对应服务类目；② 提供同类项目业绩证明；③ 报价方案与售后响应须明确；④ 紧盯投标截止与开标节点，建议提前完成标书制作与盖章。当地项目常要求本地化服务能力与快速响应，务必在投标文件中凸显。
标书制作联系冯经理：17551026086
